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CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質更細微的結構和性質。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個波長范圍，滿足各種研究需求。

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結構，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

x射線吸收精細結構（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源，測量并分析材料對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細結構的大型實驗裝置。通過在反應過程中實時監(jiān)測吸收邊的近邊（XANES）和擴展邊（EXAFS）信號，揭示材料在真實環(huán)境中的結構演化規(guī)律，為理解構效關系、優(yōu)化材料設計提供直接依據(jù)。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或實驗室X射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結構及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結構，可精準解析目標元素的化學價態(tài)、配位環(huán)境、鍵長及配位數(shù)等信息。