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臺式X射線吸收譜儀 是一種采用常規實驗室X射線光源（而非同步輻射），可在普通實驗室內完成X射線吸收精細結構測量的桌面型分析儀器。它的目標是在非同步輻射光源的條件下，實現對材料局部原子結構的快速、便捷表征。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線吸收精細譜儀是一種基于同步輻射光源的大型科學實驗裝置，它通過精確測量材料在特定元素吸收邊附近對X射線的吸收系數隨光子能量的變化規律（即X射線吸收精細結構，XAFS），來獲取該元素原子尺度的局部結構信息。

臺式XAFS(x射線吸收精細結構譜儀)??是一種實驗室級小型化設備，能夠在常規實驗室內實現X射線吸收精細結構（XAFS）的測量與分析。其核心目標是通過緊湊設計和高集成度技術，將傳統依賴同步輻射光源的XAFS實驗轉移到桌面環境中，突破大型設施的機時限制和高昂成本。